New Horizons in Testing. Latent Trait Test Theory and Computerized Adaptive Testing
David J. WeissКатегории:
Година:
1983
Издание:
1
Издателство:
Elsevier Inc, Academic Press
Език:
english
Страници:
345
ISBN 10:
0127427805
ISBN 13:
9780127427805
Файл:
PDF, 16.87 MB
IPFS:
,
english, 1983