Търсене на термини

  • Main
  • Търсене на термини
1
Рентгеноструктурный анализ мелкокристаллических и аморфных тел

Рентгеноструктурный анализ мелкокристаллических и аморфных тел

Китайгородский Александр Исаакович
фиг
интенсивности
линии
оси
атомов
рентгенограммы
рассеяния
слоев
линий
порядка
частиц
решетки
кривой
текстуры
кривая
исследования
образца
интенсивность
расстояний
дает
кривые
вещества
функции
число
стр
плоскости
таблицы
формы
цепи
кристаллитов
следовательно
ячейки
каучука
малых
значения
межплоскостных
области
рентгенограмм
кристалла
типа
метод
обратной
рентгенограмма
системы
распределение
ряд
определение
пятна
расстояние
размера
Година:
1952
Език:
russian
Файл:
DJVU, 13.57 MB
0 / 0
russian, 1952
2
Рентгеноструктурный анализ мелкокристаллических и аморфных тел

Рентгеноструктурный анализ мелкокристаллических и аморфных тел

Китайгородский Александр Исаакович
фиг
интенсивности
линии
оси
атомов
рентгенограммы
рассеяния
слоев
порядка
линий
частиц
решетки
кривой
текстуры
кривая
образца
исследования
интенсивность
дает
расстояний
вещества
кривые
функции
число
стр
плоскости
таблицы
формы
кристаллитов
цепи
следовательно
ячейки
малых
каучука
межплоскостных
значения
рентгенограмм
области
кристалла
метод
обратной
рентгенограмма
системы
типа
распределение
ряд
определение
размера
пятна
расстояние
Година:
1952
Език:
russian
Файл:
DJVU, 10.64 MB
0 / 0
russian, 1952
3
Рентгенофазовый анализ.

Рентгенофазовый анализ.

Ковба Л.М., Трунов В.К.
линий
линии
решетки
излучения
рис
ячейки
значения
табл
атомов
вещества
образца
параметров
hkl
индицирование
интенсивности
индексы
интенсивность
рентгеновских
лучей
поглощения
типа
веществ
кубической
рентгенограммы
съемки
порошка
камеры
рентгенограмм
симметрии
таблица
sin2
анализа
величины
оси
наиболее
определения
индексами
гексагональной
иметь
позволяет
продолжение
пучка
трубки
рентгенограмме
кристалла
число
случаях
смеси
индицирования
обратной
Година:
1976
Език:
russian
Файл:
DJVU, 2.00 MB
0 / 0
russian, 1976
4
Рентгенофазовый анализ

Рентгенофазовый анализ

Ковба Л.М.
линий
линии
решетки
ячейки
значения
атомов
излучения
индицирование
рис
hkl
интенсивности
параметров
вещества
интенсивность
типа
поглощения
симметрии
оси
веществ
табл
индексами
индексы
кубической
порошка
величины
рентгеновских
рентгенограммы
образца
гексагональной
иметь
интенсивностей
лучей
наиболее
обратной
определения
сингонии
анализа
число
индексов
индицирования
рентгенограмме
ячейке
волны
координаты
группы
кристалла
позволяет
векторов
величина
приведены
Година:
1976
Език:
russian
Файл:
PDF, 24.40 MB
0 / 0
russian, 1976
5
Рассеяние ускоренных электронов на атомной структуре: практикум

Рассеяние ускоренных электронов на атомной структуре: практикум

А.А. Cушков, Д.А. Павлов (составление)
рис
решетки
электронограммы
обратной
изображение
индексы
плоскости
электронов
электронограмм
плоскостей
hkl
фурье
слоя
атомного
нажмите
разрешения
помощью
преобразование
дифракционной
изображения
микроскопе
поперечного
среза
просвечивающем
расстояние
электронном
𝐚
gatan
micrograph
дифракции
задание
картина
поликристалла
приложение
роста
зон
изображении
картине
кикучи
межплоскостных
расстояний
типа
𝐛
𝐜
индицирование
интенсивности
направлением
обеспечения
программного
𝐇hkl
Година:
2020
Език:
russian
Файл:
PDF, 6.40 MB
0 / 5.0
russian, 2020
6
Рассеяние ускоренных электронов на атомной структуре: практикум

Рассеяние ускоренных электронов на атомной структуре: практикум

Коллектив авторов
рис
решетки
электронограммы
обратной
изображение
индексы
плоскости
электронов
электронограмм
плоскостей
hkl
фурье
слоя
атомного
нажмите
разрешения
помощью
преобразование
дифракционной
изображения
микроскопе
поперечного
среза
просвечивающем
расстояние
электронном
𝐚
gatan
micrograph
дифракции
задание
картина
поликристалла
приложение
роста
зон
изображении
картине
кикучи
межплоскостных
расстояний
типа
𝐛
𝐜
индицирование
интенсивности
направлением
обеспечения
программного
𝐇hkl
Година:
2020
Език:
russian
Файл:
PDF, 6.40 MB
0 / 3.0
russian, 2020
7
Дифракционный структурный анализ. Основные методы исследования: учебно-методическое пособие для студентов, обучающихся по направлениям подготовки бакалавров "Нанотехнологии и микросистемная техника", "Физика", "Техническая физика"

Дифракционный структурный анализ. Основные методы исследования: учебно-методическое пособие для студентов, обучающихся по направлениям подготовки бакалавров "Нанотехнологии и микросистемная техника", "Физика", "Техническая физика"

А. В. Сосунов, Л. Н. Малинина, Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Пермский государственный национальный исследовательский университет"
решетки
линии
рис
линий
лучей
оси
плоскости
рентгеновских
вращения
индексов
волны
вещества
вульфа
отражения
плоскостей
излучения
индексы
кристаллов
определить
hkl
линия
обратной
угол
поглощения
проекции
рентгенограмме
длины
монокристалла
т.е
помощью
рефлексы
волн
индицирование
квадратов
кристалла
луча
рентгенограммы
решеткой
сетки
лучи
метода
образца
значения
луч
определения
зависит
лауэ
направления
спектр
угла
Година:
2021
Език:
russian
Файл:
PDF, 3.28 MB
0 / 0
russian, 2021
8
Рентгенография металлов: учебное пособие

Рентгенография металлов: учебное пособие

А. С. Иванов, М-во образования и науки Российской Федерации, Федеральное гос. бюджетное образовательное учреждение высш. проф. образования "Пермский нац. исследовательский политехнический ун-т"
линии
рентгеновских
пнипу
elib.pstu.ru
стр
линий
решетки
лучей
отражения
образца
рис
волны
излучения
плоскостей
анализа
метод
рентгеновского
мартенсита
плоскости
кристаллической
интенсивность
фазы
лучи
анализ
интенсивности
углерода
материала
определяется
рентгеновские
эталона
β1
волн
рентгенограмме
угол
аустенита
блоков
брэгга
вульфа
исследуемого
напряжения
фаз
рентгеновской
дублета
излучение
методом
решетке
данной
результате
рентгенограммы
определения
Година:
2014
Език:
russian
Файл:
PDF, 2.00 MB
0 / 5.0
russian, 2014
9
Рентгенография металлов

Рентгенография металлов

Иванов А. С.
линии
рентгеновских
пнипу
elib.pstu.ru
стр
линий
решетки
лучей
отражения
образца
рис
волны
излучения
плоскостей
анализа
метод
рентгеновского
мартенсита
плоскости
кристаллической
интенсивность
фазы
лучи
анализ
интенсивности
углерода
материала
определяется
рентгеновские
эталона
β1
волн
рентгенограмме
угол
аустенита
блоков
брэгга
вульфа
исследуемого
напряжения
фаз
рентгеновской
дублета
излучение
методом
решетке
данной
результате
рентгенограммы
определения
Език:
russian
Файл:
PDF, 2.00 MB
0 / 0
russian
10
Рентгенография металлов

Рентгенография металлов

Иванов А.С.
линии
рентгеновских
линий
решетки
лучей
отражения
рис
образца
плоскостей
волны
излучения
анализа
рентгеновского
метод
плоскости
кристаллической
мартенсита
интенсивность
фазы
анализ
интенсивности
лучи
материала
определяется
рентгеновские
углерода
брэгга
вульфа
исследуемого
рентгенограмме
эталона
β1
волн
угол
аустенита
фаз
блоков
напряжения
решетке
рентгеновской
данной
дублета
излучение
методом
рентгенограммы
уравнения
луча
результате
луч
определения
Език:
russian
Файл:
PDF, 29.21 MB
0 / 0
russian
11
Геометрическая теория рассеяния ускоренных электронов на кристаллах: Описание к лабораторному практикуму по курсу ''Методы исследования структуры твердых тел''

Геометрическая теория рассеяния ускоренных электронов на кристаллах: Описание к лабораторному практикуму по курсу ''Методы исследования структуры твердых тел''

Кудрявцева Р.В., Павлов А.Д., Шиляев П.А.
решетки
обратной
электронограммы
hkl
электронограмм
текстуры
электронов
плоскости
оси
электронограмма
рис
отражения
точечных
т.е
кристаллов
определить
dhkl
индексы
поликристалла
электронограмме
колец
межплоскостных
электронографии
вещества
кикучи
пучка
расстояний
дифракции
образца
прямой
узел
фото
решетка
симметрии
сферы
узлов
волны
индексов
кристалликов
линий
линиями
направление
определения
применение
пучку
рассеяния
соответственно
текстур
2lλ
ϕ
Година:
2003
Език:
russian
Файл:
PDF, 1.58 MB
0 / 0
russian, 2003
12
Рентгеноструктурный анализ в материаловедении наносистем

Рентгеноструктурный анализ в материаловедении наносистем

Тарасова Н. В.
aгентство
cервис
kнига
бибком
оао
ооо
цкб
hkl
линии
вещества
решетки
анализа
значения
линий
о.с
fm3m
анализ
рентгенограммы
излучения
расстояний
смеси
межплоскостных
рентгенограмме
рис
веществ
волны
интенсивность
лучей
рентгеновского
табл
dhkl
α1
α2
вещество
кристаллической
материаловедении
наносистем
определения
результаты
тип
im3m
интенсивности
лабораторной
материала
москва
определение
отражения
ср.с
фаз
sinθ
Език:
russian
Файл:
PDF, 737 KB
0 / 0
russian
13
Рентгеноструктурный анализ в материаловедении наносистем

Рентгеноструктурный анализ в материаловедении наносистем

Тарасова Н. В.
aгентство
cервис
kнига
бибком
оао
ооо
цкб
hkl
линии
вещества
решетки
анализа
значения
линий
о.с
fm3m
анализ
рентгенограммы
излучения
расстояний
смеси
межплоскостных
рентгенограмме
рис
веществ
волны
интенсивность
лучей
рентгеновского
табл
dhkl
α1
α2
вещество
кристаллической
материаловедении
наносистем
определения
результаты
тип
im3m
интенсивности
лабораторной
материала
москва
определение
отражения
ср.с
фаз
sinθ
Език:
russian
Файл:
PDF, 740 KB
0 / 0
russian
14
Методические указания к практическим и лабораторным работам по дисциплине «Основы кристаллографии»: для направления подготовки 22.03.01 «Материаловедение и технологии материалов» (уровень бакалавриата)

Методические указания к практическим и лабораторным работам по дисциплине «Основы кристаллографии»: для направления подготовки 22.03.01 «Материаловедение и технологии материалов» (уровень бакалавриата)

Картонова Л. В.
симметрии
вещества
решетки
рис
минералов
задание
таблица
кристаллов
атомов
кристаллической
число
кристаллических
изучение
формы
плоскостей
название
анализа
минералы
грани
преподавателем
граней
многогранников
контрольные
табл
учеб
цель
выполняется
лучей
минерала
тетраэдра
вузов
выполнения
излучения
изучить
каждой
кристаллы
метод
форм
элементов
ионов
координационное
материалов
определить
оси
простые
раствор
кристаллография
образования
описание
анализ
Език:
russian
Файл:
PDF, 1.76 MB
0 / 5.0
russian
15
Рентгенофазовый анализ

Рентгенофазовый анализ

Ищенко А.А., Киселев Ю.М.
линий
симметрии
рис
смеси
линии
излучения
интенсивности
рентгенограмме
рфа
наиболее
интенсивность
решетки
фазы
интенсивностей
плоскости
рентгенограмм
фаз
wmf
unknown
соединений
рентгенограммы
атомов
png
рентгеновских
анализ
качестве
координат
метод
определения
поглощения
число
анализа
отражения
трех
вещества
оси
плоскостей
рентгеновского
соответственно
соотношение
состава
кристалла
образцов
расстояния
элементов
jcpds
величины
данных
значения
образца
Език:
russian
Файл:
DOC, 1.12 MB
0 / 0
russian
16
Общая физика. Методические указания по выполнению курсовой работы

Общая физика. Методические указания по выполнению курсовой работы

сост. : Ю. В. Герасимова, А. Е. Бурученко, А. К. Москалев.
рис
ячейки
угол
индексы
плоскостей
интенсивности
минералов
рентгенограмме
числа
кристалла
плоскости
число
d12
атомов
волны
излучение
лучей
рентгеновских
рентгенограммы
решетки
т.д
ячейка
волн
значения
излучения
интенсивность
линии
межплоскостных
расстояний
табл
таблица
rb2kinf6
брегга
вульфа
дифракции
кубической
отражения
параллельных
углы
dhkl
hkl
индицирования
кварц
кристаллов
линий
параметров
порошковых
пробе
расстояние
расстояния
Език:
russian
Файл:
PDF, 1.81 MB
0 / 0
russian
17
Структура и свойства пиролитического графита в связи с явлением сверхпроводимости веществ

Структура и свойства пиролитического графита в связи с явлением сверхпроводимости веществ

Дигонский С.В., Тен В.В.
графита
сверхпроводимости
веществ
температуры
пирографита
дигонский
графитовых
связи
рис
графит
свойства
электронов
graphite
кристаллической
в.в
материалов
углерода
зависимости
изделий
кристалла
направлении
структуры
энергетики
графитированных
кристаллов
решетки
ростом
сеток
температуре
scientific
осаждения
cvd
осаждение
получения
происходит
свойств
углеводородов
возрастает
направлениях
образования
осуществляется
пиролитического
с.в
структура
температурах
характеристики
электропроводность
аварбэ
атомами
высокой
Език:
russian
Файл:
PDF, 566 KB
0 / 0
russian
18
Рентгенофазовый анализ

Рентгенофазовый анализ

Шпанченко Р.В., Розова М.Г.
линий
рентгенограммы
решётки
ячейки
индицирования
параметров
задача
индицирование
обратной
рентгенограмме
линии
методом
сингонии
qhkl
задачи
значения
типа
число
hkl
определение
индексы
расстояния
смеси
nposs
исходной
мнк
рефлексов
2θ
используют
программы
соединения
уточнение
элементарной
dhkl
позволяет
рис
структуры
таблица
величины
параметры
плоскостей
промер
различных
рентгенограмм
сингония
теоретической
ячеек
ijk
qэксп
интенсивность
Език:
russian
Файл:
PDF, 583 KB
0 / 0
russian
19
Исследование образцов с помощью рентгенофазового анализа: Практикум

Исследование образцов с помощью рентгенофазового анализа: Практикум

Носикова Л. А., Кочетов А. Н., Цивадзе А. Ю.
1_555
данных
рис
анализа
рентгенограммы
образца
рисунок
сведения
дифракции
tl1
cif
дифрактометре
пиков
рентгенограмме
соединений
соединения
2ɵ
данные
образцов
shimadzu
образец
программа
программы
решетки
файл
анализ
кубической
параметров
параметры
рентгенофазового
сканирования
фаз
dhkl
поиска
получить
помощью
съемки
hkl
mercury
кочетов
кристаллических
лаборатории
линий
носикова
отражения
проведения
программе
работе
рентгенограмм
рфа
Година:
2021
Език:
russian
Файл:
PDF, 2.89 MB
0 / 4.0
russian, 2021
20
Определение параметров элементарной ячейки кристаллов: лабораторный практикум.

Определение параметров элементарной ячейки кристаллов: лабораторный практикум.

Блинов В. И.
параметров
линии
ячейки
решетки
элементарной
погрешности
тяжести
фона
вещества
измерений
определения
пика
центра
дифракционной
кристаллов
линий
определение
параметра
съемки
aгентство
cервис
kнига
бибком
дифракционного
значения
измерения
использовать
максимума
оао
ооо
периодов
погрешность
расстояния
углов
цкб
величина
исследуемого
кубической
межплоскостных
методы
отражения
пиков
погрешностей
положение
помощью
программы
путем
расстояний
расчета
систематических
Език:
russian
Файл:
PDF, 255 KB
0 / 0
russian
21
Определение фазового состава поликристаллического вещества: лабораторный практикум.

Определение фазового состава поликристаллического вещества: лабораторный практикум.

Блинов В. И.
фазы
линий
фаз
вещества
dhkl
фазового
интенсивности
анализа
линии
анализ
метода
эталона
рентгенограмме
искомой
смеси
интенсивность
количество
метод
образца
фазовый
aгентство
cервис
kнига
бибком
оао
образце
ооо
цкб
интенсивностей
ряда
hkl
значений
значения
каждой
наиболее
определение
рентгенограммы
состава
вещество
отношение
рентгенограмма
ряд
состав
данные
методов
методы
находят
определяемой
основан
позволяет
Език:
russian
Файл:
PDF, 328 KB
0 / 0
russian
22
Определение фазового состава поликристаллического вещества: Описание лабораторной работы по курсу ''Рентгеноструктурный анализ''

Определение фазового состава поликристаллического вещества: Описание лабораторной работы по курсу ''Рентгеноструктурный анализ''

Панова Т.В., Блинов В.И.
фазы
линий
фаз
вещества
dhkl
фазового
интенсивности
анализа
линии
анализ
метода
эталона
рентгенограмме
искомой
смеси
интенсивность
количество
метод
образца
фазовый
образце
интенсивностей
ряда
hkl
значений
значения
каждой
наиболее
определение
рентгенограммы
состава
вещество
отношение
рентгенограмма
ряд
состав
данные
методов
методы
находят
определяемой
основан
позволяет
поликристаллического
ри.ф
сингонии
стандарта
структура
табличными
фазе
Година:
2004
Език:
russian
Файл:
PDF, 331 KB
0 / 0
russian, 2004
23
Определение параметров элементарной ячейки кристаллов: Описание лабораторной работы по курсу ''Рентгено-структурный анализ''

Определение параметров элементарной ячейки кристаллов: Описание лабораторной работы по курсу ''Рентгено-структурный анализ''

Панова Т.В., Блинов В.И.
параметров
линии
ячейки
решетки
элементарной
погрешности
тяжести
фона
вещества
измерений
определения
пика
центра
дифракционной
кристаллов
линий
определение
параметра
съемки
дифракционного
значения
измерения
использовать
максимума
периодов
погрешность
расстояния
углов
величина
исследуемого
кубической
межплоскостных
методы
отражения
пиков
погрешностей
положение
помощью
программы
путем
расстояний
расчета
систематических
точности
точностью
угла
углами
0ист
2θ
2θ1
Година:
2004
Език:
russian
Файл:
PDF, 258 KB
0 / 0
russian, 2004
24
Физика: волновые свойства микрочастиц: Лабораторный практикум

Физика: волновые свойства микрочастиц: Лабораторный практикум

Алифанов О.В.
бройля
волны
дифракционной
рис
электронно
напряжения
частицы
волн
скорость
колец
системе
скорости
электронов
брэгга
значения
кристалле
мисис
напряжение
согласно
табл
графита
длина
наблюдателя
расстояний
результаты
условие
физика
частиц
алифанов
волна
волновые
вульфа
источник
картины
микрочастиц
отражения
свойства
трубки
угол
формуле
эксперимента
энергии
вещества
волновой
записать
излучения
интенсивности
кольца
межплоскостных
москва
Година:
2017
Език:
russian
Файл:
PDF, 456 KB
0 / 5.0
russian, 2017
25
Фазовый состав покрытий, сформированных микродуговым оксидированием

Фазовый состав покрытий, сформированных микродуговым оксидированием

Севостьянов Александр Леонидович
а120з
покрытии
расстояний
мдо
межплоскостных
фаз
а1203
покрытий
aгентство
cервис
kнига
а.л
алюминия
амг2
анализа
бибком
дифрактограммы
излучение
ионы
микродуговым
набор
ния
оао
оксида
оксидированием
ооо
покрытия
присутствуют
ргазу
севостьянов
сканирования
состав
сплаве
строительство
транспорт
фаза
фазовый
цкб
4wmv
ahcumgsifv
al2cvh20
cumgab
cumgal6
diffraction
haw
ĥ
icdu0
jcpds
lnternational
wp̂
Език:
russian
Файл:
ZIP, 94 KB
0 / 0
russian
26
Определение периода кристаллической решетки и состава химически осажденных пленок твердых растворов замещения: Методические указания к лабораторной работе

Определение периода кристаллической решетки и состава химически осажденных пленок твердых растворов замещения: Методические указания к лабораторной работе

Марков В.Ф., Маскаева Л.Н.
решетки
растворов
твердых
кристаллической
замещения
периода
пленок
свинца
состава
pbs
определение
впо
гоу
упи
химически
осажденных
угту
cds
марков
маскаева
сульфида
в.ф
л.н
cdxpb1
стр
определения
рис
кадмия
раствора
твердого
вегарда
линии
мол
сульфид
атомов
максимума
металлов
связи
изоморфной
интенсивности
правило
разность
брэгга
вульфа
кубической
методы
образования
основе
положение
системе
Година:
2005
Език:
russian
Файл:
PDF, 430 KB
0 / 0
russian, 2005
27
Рентгеноструктурный анализ: Рабочая программа дисциплины

Рентгеноструктурный анализ: Рабочая программа дисциплины

лучей
метод
решетки
методы
анализ
излучения
рентгеновских
линии
монокристалла
определения
основные
рассеяния
дифракции
кристалла
окр
профиля
пучка
рассеяние
рентгеновского
рентгеноструктурный
анализа
брегга
вульфа
дифракционные
изд
картины
курс
металлов
металлургия
множитель
наблюдения
обратное
обратной
определение
ориентировки
параметров
причины
пространство
рентгенография
содержание
сфера
твердым
телом
томск
физика
физики
экстинкция
ячейкой
а.н
амплитуда
Година:
2005
Език:
russian
Файл:
PDF, 160 KB
0 / 0
russian, 2005